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影驰黑将系列SSD评测

2013-9-6 16:01| 发布者: 心即空| 查看: 14099| 评论: 1|原作者: 心即空

摘要：近日PCEVA评测室收到2块来自影驰的黑将系列高性能SSD，早前我们已经评测过影驰雷电系列的SSD产品，那么这2块面向高端市场的黑将系列SSD又能有什么表现呢 ...

深入测试项目

4KB QD1 ~ QD64的随机读写理论测试
此测试目的是为了试探SSD的并发优化程度和IOPS封顶数值。测试方法是全盘快速格式化后用Iometer 1.1 （Pseudo随机数据模型）填充满全盘LBA，然后测QD1 ~ QD64的读取数值，每项1分钟取平均值。写入部分则是全盘格式化后生成8GB LBA测试块。

影驰黑将的读取性能相当不俗，随着QD增加，随机读取性能最终达到标称参数以上；写入方面，128GB型号在16QD到顶以后，随着QD继续增加，性能则反而有所下降了，不过始终保持在标称50000 IOPS以上的水平，64GB由于容量的关系，在8QD达到标称性能后，随着QD增加，性能出现较大的下降，并且无法保持在标称性能以上。

4KB QD32 随机写入离散度测试，时间2000秒。
测试方法是全盘快速格式化后用Iometer 1.1 （Pseudo随机数据模型）填充满全盘LBA，设置4KB QD32 ， 4KB分区对齐，随机写入100%，1秒记录一次采样，2000个采样一共2000秒。

从以上的图表能看出，影驰黑将在压力测试下的离散度表现并不好，甚至出现了多次瞬间0 IOPS的情况，由此判断出主控在当时锁死了1秒以执行GC（垃圾回收），由于IO中断，反映到用户使用上的表现就是直接出现1、2秒时间的卡顿。不过影驰黑将是针对一般家用市场的消费级SSD产品，在一般家用环境下，并不会出现我们测试中这类长时间持续的高负载压力，因此一般消费者不需要担心正常使用中会出现卡顿的情况。

4KB QD32 随机写入2小时，比较性能下降幅度
测试方法是全盘快速格式化后用Iometer 1.1 （Pseudo随机数据模型）填充满全盘LBA，设置4KB QD32 ， 4KB分区对齐，随机写入100%，1分钟记录一次采样，120个采样一共120分钟。

X轴单位为分钟，Y轴为IOPS。其实从开始测试到第3分钟，IOPS已经下降到大约2000的位置，之后盘的性能一直维持在同样的水平没有很大的波动，结合前面的离散度测试，我们可以确定黑将是一块纯粹的家用消费级SSD产品，并不适合在高负载压力的环境下使用。

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